基于四波橫向剪切干涉法的超表面光學表征

自從J.B.Pentry教授在1996年開始提出超材料結(jié)構(gòu)的負折射原理，RogerM.Walser教授1999年正式提出了超材料metamaterial的名詞?，F(xiàn)如今，超材料已經(jīng)從最初材料性研究，慢慢的過度到器件方向，而由于微納工藝的發(fā)展，亞微米乃至納米級周期性結(jié)構(gòu)得以實現(xiàn)，超材料在可見光和近中紅外等區(qū)域的研究近年來也逐漸增多，由此衍生的超表面、超透鏡等也變成了光學前沿和技術(shù)熱點，甚至于被譽為光學領(lǐng)域新的革命性技術(shù)。原理知識超表面是由大量亞波長單元在二維平面上周期或非周期排布...

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激光器光束質(zhì)量分析檢測

如今，激光器已經(jīng)廣泛應(yīng)用于通信、焊接和切割、增材制造、分析儀器、航空航天、軍事國防以及醫(yī)療等領(lǐng)域。激光的光束質(zhì)量無論對于激光器制造客戶還是激光器使用客戶都是重要的核心指標之一。許多客戶依賴激光器的出廠報告，從而忽略了對于激光器光束質(zhì)量測試的重要性，往往在后面激光器使用過程中達不到理想的效果。通過下方的對比圖可以看出，同樣的功率情況下（100W），如果焦點產(chǎn)生微小的漂移，對于材料加工處的功率密度足足變化了72倍！所以，激光器僅僅測試功率或能量是遠遠不夠的。對于激光光束質(zhì)量的定期...

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帶通濾光片怎么看可以通過的波長范圍？

帶通濾光片是一種光學元件，廣泛應(yīng)用于光學系統(tǒng)中以選擇性地透過一定波長范圍的光。要確定光片可以通過的波長范圍，可以采取以下幾種方法和步驟：查找濾光片的規(guī)格表：濾光片通常具有相關(guān)的技術(shù)規(guī)格表，其中包含了關(guān)于其光學性能的詳細信息。規(guī)格表可能提供濾光片設(shè)計的波長范圍或中心波長，并一定其透過率、截止斜率等參數(shù)。考慮濾光片類型：不同類型的濾光片具有不同的工作原理和特性。例如，干涉型濾光片基于光的干涉現(xiàn)象，可實現(xiàn)較窄的波長范圍選擇；吸收型濾光片則基于材料對特定波長的吸收能力實現(xiàn)濾波。了解所...

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硅光電二極管的原理及性能特點

硅光電二極管是一種基于硅材料的光電轉(zhuǎn)換器件。它具有半導(dǎo)體材料的特性，能夠?qū)⒐庑盘栟D(zhuǎn)換為電信號，實現(xiàn)光電轉(zhuǎn)換功能。通常由一個p-n結(jié)構(gòu)組成，其中p區(qū)和n區(qū)分別具有不同的摻雜類型。當光照射到p-n結(jié)構(gòu)時，光子的能量可激發(fā)電荷載流子，從而產(chǎn)生電流。被廣泛應(yīng)用于光通信、光電檢測、光譜分析等領(lǐng)域，具有高靈敏度、快速響應(yīng)和穩(wěn)定性等優(yōu)點。硅光電二極管的工作原理可以簡單描述如下：1、光吸收：當入射光線照射到二極管上時，能量被硅材料吸收。2、光生電子-空穴對：吸收光的能量使得硅中的原子激發(fā)，從...

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使用膜厚測量儀的步驟

膜厚測量儀是一種用于測量物體表面上的薄膜或涂層厚度的儀器。它通常使用光學或電子技術(shù)來實現(xiàn)測量，并能夠提供準確和可重復(fù)的結(jié)果。下面是一個簡單的使用膜厚測量儀的步驟：1、準備工作：在開始之前，確保你有以下必需的物品：膜厚測量儀：這是用于測量膜厚的儀器。校準樣品：這是已知膜厚的樣品，用于校準儀器。2、儀器校準：首先，需要對儀器進行校準，以確保其準確性和可靠性。具體的校準方法可能因不同的儀器而異，所以請參考儀器的用戶手冊或操作說明進行校準。3、準備待測樣品：選擇待測的物體或涂層樣品，...

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