用半導(dǎo)體膜厚測(cè)試儀來測(cè)量設(shè)備精密度是一種簡(jiǎn)單又科學(xué)的方法

半導(dǎo)體膜厚測(cè)試儀能提供一般鍍層厚度和元素分析功能，鍍層厚度和元素成色同時(shí)進(jìn)行，只需數(shù)秒鐘，便能非破壞性地得到準(zhǔn)確的測(cè)量結(jié)果，多層鍍層的樣品也一樣能勝任輕巧的樣品室，適合不同大小的樣品，功能實(shí)用，準(zhǔn)確性高，是五金電鍍，首飾，端子等行業(yè)，可測(cè)量各類金屬層、合金層厚度。性能特征：1、X射線激發(fā)系統(tǒng)：垂直上照式X射線光學(xué)系統(tǒng)。2、快速、精確的分析：大面積正比計(jì)數(shù)探測(cè)器和博曼儀器50瓦微聚焦X射線光管（X射線光束強(qiáng)度大、斑點(diǎn)小，樣品激發(fā)佳）相結(jié)合。3、準(zhǔn)直器程控交換系統(tǒng)：可同時(shí)裝配4種...

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激光功率計(jì)的使用和注意事項(xiàng)

激光功率計(jì)是用來測(cè)試連續(xù)激光的功率或者脈沖激光在某一段時(shí)間的平均功率的儀器。使用方法1.接上輸入電源線，將光探測(cè)器的輸出插到儀器的“光輸入”。2.根據(jù)測(cè)試對(duì)象的工作波長(zhǎng)，通過三位開關(guān)進(jìn)行選擇。3.測(cè)量光功率時(shí)請(qǐng)將激光二極管組件的輸出光對(duì)準(zhǔn)探頭光輸入窗口找出最大值，即為輸出光功率。4.測(cè)試完畢請(qǐng)關(guān)斷電源，長(zhǎng)時(shí)間不用請(qǐng)將輸入電源線，激光探頭和直流帶夾輸出線拔掉。注意事項(xiàng)1.請(qǐng)輕拿輕放，特別應(yīng)防止探頭中的毛玻璃片及硅光電池因震動(dòng)而脫落而或損壞。2.關(guān)于激光管組件使用注意事項(xiàng)請(qǐng)參閱本...

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四種針對(duì)軟X射線和極紫外波段的分析和診斷光譜儀

國(guó)McPherson公司是一家專業(yè)的光譜設(shè)備生產(chǎn)廠商，公司位于波士頓西北部的Chelmsford。自1954年為美國(guó)空氣動(dòng)力實(shí)驗(yàn)室提供第一套光譜儀，服務(wù)于航空航天研究領(lǐng)域，60多年來，McPherson一直致力于為全世*的研究院所提供**流的光譜測(cè)試設(shè)備。在McPherson的客戶名單上，包括美國(guó)NIST、中國(guó)TOKAMAK設(shè)備、貝爾實(shí)驗(yàn)室、歐洲聯(lián)合杯JET、奧斯丁核聚變反應(yīng)堆等世界上眾多*流的研究機(jī)構(gòu)。McPherson公司已形成一條成熟完整的產(chǎn)品線，涵蓋從紅外、可見光、紫...

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光學(xué)斬波器利用先進(jìn)的功能調(diào)制連續(xù)光束

光學(xué)斬波器是一種精密儀器，利用先進(jìn)的功能調(diào)制連續(xù)光束?？刂破魇褂面i相回路(PLL)馬達(dá)速度控制設(shè)計(jì)，能夠相對(duì)參考信號(hào)精確維持?jǐn)夭ㄋ俾屎拖辔?。?nèi)部晶體穩(wěn)定的頻率合成器提供準(zhǔn)確且穩(wěn)定的參考頻率，提高長(zhǎng)期穩(wěn)定性能。這種高穩(wěn)定性的變頻光學(xué)斬波器包含一套化學(xué)涂黑處理的斬波盤。這種微型斬波器對(duì)于要求緊湊封裝的應(yīng)用是很好的選擇。產(chǎn)生超過一個(gè)斬波頻率信號(hào)的組成結(jié)構(gòu)可以視為雙頻斬波器。斬波盤有多個(gè)通光狹縫。在使用200個(gè)狹縫的盤時(shí)，光斑直徑限制在0.75毫米；使用40個(gè)狹縫的盤時(shí)，光斑直徑則在...

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膜厚測(cè)量?jī)x是如何測(cè)量的？從儀器的工作原理中找到答案

不少專業(yè)人士對(duì)膜厚測(cè)量?jī)x肯定不會(huì)感到陌生吧，它主要是用來測(cè)量材料及物體厚度的儀表，采用機(jī)械接觸式測(cè)量方式，嚴(yán)格符合標(biāo)準(zhǔn)要求，有效保證了測(cè)試的規(guī)范性和準(zhǔn)確性。專業(yè)適用于量程范圍內(nèi)的塑料薄膜、薄片、隔膜、紙張、箔片、硅片等各種材料的厚度精確測(cè)量。膜厚怎么測(cè)量？基體表面鍍膜或氣相沉膜是材料表面工程中的重要技術(shù)，膜的厚度直接影響其性能，故需對(duì)其進(jìn)行有效測(cè)量。目前常用的膜厚測(cè)量方法主要有磁性法、渦流法、超聲波測(cè)厚法等。其中渦流膜厚測(cè)量?jī)x，由于采用了單一渦流法的渦流涂層測(cè)厚儀可以實(shí)現(xiàn)無損...

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