激光功率計的測量原理分析

激光功率計是用來測試連續(xù)激光的功率或者脈沖激光在某一段時間的平均功率的儀器。激光功率計功率測量原理：激光探頭是一個涂有熱電材料的吸收體，熱電材料吸收大部分的光能量并轉(zhuǎn)化成熱量，只有少部分反射。吸收與反射比例與材料的光譜響應曲線有關，吸收體的儲熱體和它的厚度決定了熱量傳輸?shù)教筋^的速度和反應時間。探頭溫度變化，能夠產(chǎn)生電流，電流通過薄片環(huán)形電阻轉(zhuǎn)變成電壓信號傳輸出來。激光入射，測得的電壓隨時間快遞上升，然后在緩慢衰減，一段時間后恢復到零。這就是測量的熱現(xiàn)象，上升和衰減時間不受負載...

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棱鏡耦合測試儀的特性及應用領域介紹

棱鏡耦合測試儀主要是用于電解質(zhì)和聚合物膜的厚度、折射率和波導參數(shù)的快速測量。適用于薄膜厚度在2-100µm的聚合物材料、硅基氧化膜、硅基玻璃膜，在干涉條紋產(chǎn)生的基礎上通過改變角度產(chǎn)生干涉條紋（VAMFO-變角度單色條紋觀測）的方法。對于厚膜折射率的測量，單色光被直接照射到被測樣品上，這樣，從薄膜表面反射回來的光的干涉小值就會發(fā)生變化，光的入射角也會發(fā)生變化。在這種技術中，薄膜厚度是由兩個干涉小值的角的位置計算出來的。對于這種測量條件——薄膜具有兩個或兩個以上的干擾...

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ElFys黑硅光電探測器應用介紹

ElFys提供一系列高性能黑硅光電二極管。該光電探測器是通過采用表面納米結(jié)構技術與原子層沉積涂層相結(jié)合，大大提高了光收集效率。在200nm至950nm范圍內(nèi)具有光響應，外量子效率≥96%（通過德國國家計量研究院PTB認證）。此光電探測器在紫外波段也同樣具有*的量子效率，比普通的硅光電二極管高出兩倍以上。黑硅表面與定制的原子層沉積涂層相結(jié)合，極大地提高了感應角度范圍內(nèi)的表面吸收率，具有*吸光度的超寬感應角度（95%@60°）ElFys提供SM和PD兩大系列的標準產(chǎn)品，也可以針對...

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使用膜厚測量儀時，需要注意哪些事項？

膜厚測量儀屬于一種常見的薄膜厚度測量儀器，在日常生活以及工業(yè)制造中都可以看見它的身影，膜厚主要對各種薄膜的厚度進行測定，測量速度快、精度高，在薄膜制造業(yè)有著很重要的應用。除此之外，它還具有作業(yè)位置靈活、數(shù)據(jù)輸出、測量單位自動轉(zhuǎn)換等特性，更是方便了人們的測量工作。這種儀器在行業(yè)當中的zhi名度很高，有著非常重要的作用，它可以測試金屬以及其他各種材料的厚度，現(xiàn)如今被廣泛的運用在化工，冶金、造船、石油、航天等領域當中，能給人們的生活帶來很大的幫助。同時它在特點方面也非常突出，比如擁...

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光纖光譜儀的工作原理和特點分析

光纖光譜儀屬于光譜儀一種常用類型，具有靈敏度高、操作簡便、使用靈活、穩(wěn)定性好、度高等優(yōu)點。光纖光譜儀工作原理：光纖光譜儀結(jié)構緊湊，包括入射狹縫、準直物鏡、光柵、成像反射鏡、濾色片和陣列探測器，還包括數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)和數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)。光信號經(jīng)入射狹縫投射到準直物鏡上，將發(fā)散光變成準平行光反射到光柵上，色散后經(jīng)成像反射鏡將光譜呈在陣列接收器的接收面上，形成光譜譜面。光譜譜面既是單色光的序列排布(有次光譜影響)，讓整個光譜中任一個微小譜帶照射到相對應探測器的像元上，在此將光信號轉(zhuǎn)換成電子...

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